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X射线分析显微镜
XGT-5000系列
10μm的革命 Innovation of 10μm 你能发挥该装置的真正实力。
概要
10μm的X射线。开发了独有的X射线导管(X-ray Guide Tube),最终得以实现超・微细X射束。可一边扫描试样,一边照射X射线,与CCD照相机和X射线检测器连动,通过光学显微镜进行观察,成功实现了使用X射线分析装置完美地完全融合元素分析的功能。它进入了与现在不同的新一代显微镜世界。<XGT>推动科学进入新时代。
特点
- 用一台装置进行各种可能性的分析。
- 观察后立即分析。观察到的“简单定位”。
- 对应从微观到宏观的多种试样。
- XGT解决的、分析的各种“困难”。
规格
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XGT-5000 |
Type I |
Type II |
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XGT系统 |
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高灵敏度类型(空间分解能:10μm、100μm) |
- |
○ |
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标准类型(空间分解能:100μm) |
○可添加10μm |
- |
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透射X射线检测器 |
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○ (可选项) ※1 |
○ |
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光学像 |
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全体光学像观察系统 |
○ (可选项) |
○ (×1.5〜×25) |
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详细光学像同轴观察系统 |
○ (×30) ※2 |
○ (×100) |
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从光学像中指定测定位置 |
○ |
○ |
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通用规格 |
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X射线管 |
最大50 kV、1 mA、Rh目的靶 |
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荧光X射线检测器 |
高纯度Si检测器(Xerophy) |
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检测元素 |
Na〜U(在试样大气中) |
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能量范围 |
0〜40 keV |
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最大测定区域/最大试样尺寸 |
100 ㎜×100 ㎜ / 350 ㎜×400 ㎜×40 ㎜ |
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OS |
Windows XP |
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软件 |
●定性功能 自动定性、多点分析、匹配 |
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●定量功能 FPM定量(不标准、1点校正) 标准曲线定量 |
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●映像分析 指定来自透射像・荧光像的同时映像、虚假颜色、图像RGB合成、图像线分析、图像间运算、相分析(可选项)、对比度调整、透射像、荧光像、光学像的分析位置 |
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●输出 CRT显示、打印机输出、文件输出、位图输出(可选项)、印刷版面设计(可选项) |
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电源 |
AC100 V、50/60 Hz、1.3 kVA以下 |
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装置质量 |
280㎏ |
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外形尺寸 |
2110(W)×1000(D)×1350(H) ㎜ |
周边机器 ●真空泵●彩色打印机
●MO驱动(可选项)●CD-RW驱动(可选项)
●15英寸液晶监视器(可选项)●透射光照明系统(可选项)
※1 未带透射X射线检测器时,映像时也能显示透射X射线的窗口。 ※2 将全体光学像观察系统添加到可选项中(×100)。
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灵活对应试样尺寸 对应从微观到宏观的多种试样。
从φ10μm级的微细分析到最大□10㎝,XGT-5000可灵活对应大范围的尺寸。 从微小微型电极的10μm级元素分析,到概览考古学资料全体图像的元素分析,其应用范围很大。
微细试样的元素分析 <微观> ●电子部件的断线和夹杂物分析 ●离子移动分析 ●印刷电路板部件・LED・金属片 ●破坏物片等
<宏观> ●古迹、夹杂物等的非破坏分析 ●地层岩石和混凝土片等的大型试样
点击后可查看详细的分析内容。
- 10μm无铅焊锡基础的分析
基础上的微细部分也在微观级上进行观察・分析。
- 药片内部的夹杂物分析
可简单地对能够看到的夹杂物进行直接分析。
- 尼泊尔抄本插图分析
较大试样可以在不被破坏的前提下对其进行元素分析。
分析解决介绍 XGT可解决的、分析中的各种“困难”。
如果引进XGT-5000,则可以从根本上解决以往不能解决的分析作业上的问题。下面将这些具体例子与成为课题的要点、解决要点一并加以介绍。
- 切出夹杂物断面很麻烦!
试样的切削需要半天时间。 切削过程中会损坏甚至会销毁夹杂物。 如果用XGT就能解决问题!
- 想要进行含水样品的元素分析!
想要节省功夫和时间。 干燥后试样损坏。 如果用XGT就能解决问题!
- 想不必破坏就能找出故障处!
估计不出哪里有故障。 想要对整包进行分析。 如果不进行分解则不能找到发生故障的地方。 如果用XGT就能解决问题!
- 想要对较大的样品原封不动地进行查找!
没办法对大范围内元素的不均匀状况进行调查。 较大样品分成小包或者重复分析要花费功夫。 如果用XGT就能解决问题!
分析手法的特征和原理
4个特点
- 10μm高速分析
使用其它公司没有的10μm XGT进行短时间分析。
- 通过光学像进行简单、正确的分析定位
从试样整体中简单地归纳出测定场所。
- 透射/荧光X射线同时分析
表面元素和内部构造的同时测定
- 在大气中进行分析
使用真空探针在大气中对试样进行分析。 |
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